Contrôleur et amplificateur de microscopie à balayage

Publication

Dr. Percy Zahl, Dr Thorsten Wagner
GXSM – Contrôle SPM intelligent et personnalisable, idéal pour le contrôle STM+AFM, permettant des acquisitions de données complexes, de l’imagerie et de la microscopie, 26 janvier 2015

Liste de références

Asie

Kochi University, Japon
ESE Co., Ltd., Vietnam

Canada

Acadia University, Nouvelle-Écosse
Université McGill, Québec
Queen University, Ontario

Europe

Allemagne

(Distributeur : Ventiotec)

Bonn University
Bremen University
Christian-Albrechts-University
Dresden University
Duisburg-Essen University
Erlangen University
Hannover University
Kiel University
Konstanz University
Max-Planck-Institut
Münster University
Oldenburg University
Paul-Drude Institut
Ruhr-University Bochum
Ulm University

Suisse

EPFL
IBM Research,
EMPA

France

CNRS, France
Université de la Méditerranée, France

Royaume-Uni

Waterford Institute of Technology, Irelande
Cardiff University, Royaume-Uni

Autres (Europe)

Instituto de Quimica-Fisica Rocasolano, Espagne
Jagiellonian University, Pologne

Scandinavie

Lulea University of Technology, Suède
Norwegian University of Science & Technology, Norvège
Royal Institute of Technology (KTH), Suède
University of Iceland, Islande

Amérique du Sud

Brazilian Synchrotron 
National Laboratory, 
Brésil

États-Unis

Argonne National Laboratory
Arizona State University
Brookhaven National Laboratory
Colorado School of Mines
Johns Hopkins University
Louisiana State University
Maryland Procurement Office
North Texas University
University of New Hampshire
University of Pittsburgh
University of Virginia
West virginia University
Yale University